双腔HAST试验箱 | 揭秘科明“一机双腔”如何解决测试产能瓶颈

双腔HAST试验箱 | 揭秘科明“一机双腔”如何解决测试产能瓶颈

2025/07/10

当前电子制造业面临严峻的可靠性测试挑战。据SEMI设备利用率报告显示，传统单腔HAST设备因串行测试模式导致平均闲置率超30%，而IEC 60068-3标准实测数据表明，批次间温湿度波动常超±3%RH的临界值。更严峻的是，紧急测试任务的平均排队时长已达48小时以上，严重制约产品上市周期。

为何HAST试验箱选择双腔结构？

✔测试效率倍增：双批次并行降低48%等待时间

✔数据可比性保障：独立控温系统消除批次干扰

✔风险分散机制：单腔故障时保留50%产能

1.双腔架构的技术价值

科明“双腔高压加速老化试验箱”通过双腔体独立控制系统，实现测试效能的跃升。

双腔HAST试验箱 VS 单腔HAST试验箱

2.创新圆筒压力内箱

市场主流方形腔体存在两大固有缺陷：顶部冷凝水滴落导致样品污染，以及角落应力集中引发的密封失效风险。

科明采用550mm×650mm圆筒压力内箱设计经GB150-2011压力容器标准验证：

顶部弧度消除冷凝水积聚，结露率降至0%；

圆周应力分布均匀性提升40%，保障长期高压测试的密封可靠性；

SUS316不锈钢满焊内胆，通过ASTM A240医疗级耐腐蚀认证。

3.两大高要求行业的认证应用

半导体器件加速老化在芯片封装测试中，设备同时满足：

IEC-60068-2-66标准

135℃高温下的不饱和模式（65~100%RH）与饱和模式（100%RH）并行测试

车规电子认证通过AEC-Q101认证的关键在于：

绝对压力范围100~300Kpa

20分钟实现常压到200Kpa升压

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