HAST高加速老化系列
高压加速老化箱-HAST/PCT
  • 产品型号:HAST
  • 生产方式:非标定制
  • 温度范围:+105℃~+135℃ (145℃为特殊选购机型)、+105℃~+162.5℃ (可定制)
  • 湿度范围:HUM不饱和测试模式:65%RH~100%RH STD饱和测试模式:100%RH、100%RH (STD饱和测试模式)

产品概述

HAST试验箱适用于IC封装,半导体,微电子芯片,磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、高湿等加速寿命信赖性试验,适用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节,测试其制品的密封性和老化性能。

 

产品特性

内胆采用双层圆弧设计,可以防止试验结露滴水现象,从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果;采用高效真空泵,使箱内达到最佳纯净饱和蒸汽状态;

采用7寸真彩式触摸屏,拥有99组4950段程序,具有USB曲线数据下载功能,RS-485通讯接口;

采用干湿球传感器直接测量(控制模式分为:干湿球、不饱和、湿润饱和等3种模式)。

 

执行试验方法与标准

·GB 10589-89低温试验箱技术条件

·IEC 68-2-14试验N

·GB 11158-89高温试验箱技术条件

·GJB 150.3-86/150.4-86

·GB 10592-89高低温试验箱技术条件

·GB 2423.1-89电工电子产品基本试验规程试验

·A:低温试验方法;

·GB 2423.1低温试验、试验A

·GB 2423.2-89电工电子产品基本试验规程试验

·B:高温试验方法;

·GB 2423.2高温试验、试验B

·GB 2423.22温度变化试验,试验N

技术参数

型号

HAST-35(不饱和型)

内箱尺寸(mm)

(圆筒型压力内箱)

直径Ø

350

D

450

 

外箱尺寸(mm)

W

880

H

1560

1160

温度范围

+105℃~+135℃

(145℃为特殊选购机型)

+105℃~+162.5℃

(可定制)

 

湿度范围

HUM不饱和测试模式:65%RH~100%RH

STD饱和测试模式:100%RH

 

100%RH (STD饱和测试模式)

压力范围

表压力:+0.2kPa ~ 200kPa

*绝对压力:100kPa ~ 300kPa

温度波动度

±0.5℃

温度分布均匀度

≤3.0℃

温度偏差

≤±3.0℃

湿度波动度

±3.0%RH

湿度偏差

±5.0%RH

压力偏差

≤±2 kPa

升温速率

+25℃~+135℃, 全程平均约 45 min (空载,不发热)

升压时间

常压 200kPa 45min

内箱材质

SUS316不锈钢板,内胆整体全满焊焊接而成

外箱材质

优质冷轧钢板,表面静电粉体烤漆

保温材质

超细玻璃棉保温层,阻燃等级A1

箱门

单开门,平嵌式旋转把手

机组

蓄水箱、散热风口、自动补水泵、补水电磁阀,水位盒、排水孔

应急泄压

手动泄压阀

 

控制器

科明7寸彩色触摸屏智能控制器

*操作系统:科明KM-5160 压力温湿度版

 

保护装置

超温保护、箱内压力保护、断路、过载保护、风机过载保护、箱门紧锁保护、缺水保护、漏电保护、报警动作

标准配件

不锈钢样品架2层、移动脚轮(配脚杯)4式

*注:各参数尺寸及外观根据客户要求量身定做

我们保留修改技术参数的权利